水稻耐鹽基因ST1之圖譜定位
Journal
良質米研究團隊研發成果研討會專輯
Part Of
臺中區農業改良場特刊第115號
Pages
249-266
ISBN
978-986-03-6908-3
Date Issued
2012-10-17
Author(s)
郭素真
林彥蓉
郭介煒
吳永培
Abstract
本研究以SM61與臺中秈17號之雜交F2培育46個耐鹽子代進行基因圖譜初定位，並以101個在SM61與臺中秈17號兩親間具多型性之分子標誌，包括61個SSR、12個STS及28個Indel標幟，分析46株F2單株的基因型，結果發現46株單株之耐鹽特性與第八條染色體上分子標幟RM223具有連鎖的現象，進一步在RM223上下游設計16個Indel分子標幟進行基因細微定位，而根據目標區域19個分子標幟之遺傳重組發生情形，推測耐鹽基因可能坐落於分子標幟RI08016與RI08026之物理距離20.3~20.7 Mb區間，將其命名為ST1，此一445 Kb區間存在55個候選基因，而選擇其中12個候選基因進行定序，經序列分析比對並未發現ST1突變點。
In this study, A total of 46 salt-tolerant F2 individuals derived from the cross of SM61, a salt-tolerant mutant japonica lines and TCS17, a salt-susceptible indica variety, were subjected to coarse mapping with 101 polymorphic markers, including 61 SSR, 12 STS, and 28 Indel markers.
Event(s)
良質米研究團隊研發成果研討會
Subjects
水稻
突變品系
耐鹽
基因圖譜定位
rice
mutant lines
Salt-tolerant
Gene position cloning
Publisher
行政院農業委員會臺中區農業改良場
Type
conference paper